濟南蘭光 C640薄膜測厚儀的技術原理解析

　　本信息由濟南蘭光機電技術有限公司發布提供。

　　C640 薄膜測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，專業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。該儀器由濟南蘭光(Labthink)研發生產，符合ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3等測試標準，以下是針對C640 薄膜測厚儀的技術原理解析：

C640薄膜測厚儀——機械接觸式測量原理

　　C640采用機械接觸式測量原理，通過測量頭與試樣接觸時的微小距離變化來精確測量試樣厚度，其核心在于高精度位移傳感器與科學結構布局的結合。

• 將預先處理好的薄型試樣（如薄膜、紙張、金屬箔片等）的一面置于下測量面上，確保試樣表面平整、無污垢或褶皺。

• 與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以預設壓力（如薄膜為17.5±1 kPa，紙張為100±1 kPa）落到試樣的另一面上。

• 同測量頭一體的傳感器自動檢測上下測量面之間的距離，該距離即為試樣的厚度。

• 
  

　　C640測厚儀可配置自動進樣系統，實現連續多點測量，提高測試效率，減少人工干預。儀器搭載Labthink新一代控制分析軟件，支持數據自動統計、分析，并生成測試報告。

　　Labthink，一家以先進檢測技術為核心競爭力的跨國公司，是全球化布局的包裝及新型膜材料檢測儀器與系統解決方案供應商。Labthink，用技術創新為客戶創造非凡價值！